1. 统计制程控制(SPC)的基本概念

1.1 质量的基本概念

1.2 统计制程控制(SPC)是什么？

1.3 统计制程控制(SPC)的起源与发展

1.4 统计制程控制（SPC）与质量体系的联系

2. 概率与正态分布

2.1 概率

2.2 统计特征数

2.3 正态分布（Normal

Distribution）

2.4 中心趋向定律（Central

Limit Theorem）

2.5 正常状态的统计规律

2.6 常规控制图及其3σ界限

2.7 正态分布数据收集

2.8 正态分布图制作方法

2.9 正态分布图分析

3. 常用的统计方法与控制图分类

3.1 变异的基本概念

3.2 数据的种类

3.3 控制图的种类与选用

3.4 控制图数据收集与制作流程

4. 计量型常规控制图的制作及应用

4.1

绘制方法

分析与改善识别

4.2

数据收集

绘制方法

分析与改善识别

5. 计数型控制图的制作及应用

5.1 计数型控制图类别及选择要求

5.2 计数型控制图数据收集

5.3 计数型控制图绘制方法

5.4 计数型控制图分木瓜与改善识别

6. cpk等数据分析及应用

6.1 统计指标性数据的分类及作用

6.2 pp与ppk的计算方法与应用

6.3 cp与cpk的计算方法与应用

6.4 cp与cpk与不良率对比分析

6.5 设备稳定性分析cmk的计算方法与应用

 注：以上培训过程会结合实际控制图应用案例进行讲解分析。